MEDIATHEQUE DE BARGNY
ABASSE NDIONE
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| Titre : |
Étude des systèmes techniques industriels : bac, terminale STI, génie électronique |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Éric Félice, Auteur ; Jacques Lebreton, Auteur ; Brahim Siraiu0308, Auteur |
| Editeur : |
Paris : Hachette éducation |
| Année de publication : |
DL 2005 |
| Collection : |
Top' exam num. 59 |
| Importance : |
1 vol. (159 p.) |
| Présentation : |
ill |
| Format : |
21 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-2-01-180258-3 |
| Prix : |
12,70 [xe2][x82][xac] |
| Langues : |
Français (fre) |
| Catégories : |
Électrotechnique Technologie
|
| Mots-clés : |
'Etude' 'syteme technique''industriels' |
| Index. décimale : |
621.3 |
| Résumé : |
Tout est dans TOP ! Pour plus d'efficacité, chaque segment correspond à un objectif pédagogique précis : réviser avec Top' Fiches, s'entraîner avec Top' Exos, et préparer ses examens avec Top' Exam. Points forts des Top' Exam - Une maquette dynamique et attrayante . - De nombreux conseils de méthodologie et de lecture de consignes pour acquérir les réflexes qui sauvent . Structure Top' Exam comporte trois parties : - L'épreuve de ... : une présentation de l'épreuve et de ses modalités (durée, contenu, coefficient, déroulement) - Entrée en matière : pour maîtriser la méthodologie générale de l'épreuve. Comment utiliser au mieux le temps imparti ' Quelles sont les difficultés propres à chaque partie du sujet ' Quels savoir-faire mobiliser' - Le vif du sujet : des sujets d'examen accompagnés de conseils et suivis d'un corrigé complet. |
Étude des systèmes techniques industriels : bac, terminale STI, génie électronique [texte imprimé] / Éric Félice, Auteur ; Jacques Lebreton, Auteur ; Brahim Siraiu0308, Auteur . - Paris : Hachette éducation, DL 2005 . - 1 vol. (159 p.) : ill ; 21 cm. - ( Top' exam; 59) . ISBN : 978-2-01-180258-3 : 12,70 [xe2][x82][xac] Langues : Français ( fre)
| Catégories : |
Électrotechnique Technologie
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| Mots-clés : |
'Etude' 'syteme technique''industriels' |
| Index. décimale : |
621.3 |
| Résumé : |
Tout est dans TOP ! Pour plus d'efficacité, chaque segment correspond à un objectif pédagogique précis : réviser avec Top' Fiches, s'entraîner avec Top' Exos, et préparer ses examens avec Top' Exam. Points forts des Top' Exam - Une maquette dynamique et attrayante . - De nombreux conseils de méthodologie et de lecture de consignes pour acquérir les réflexes qui sauvent . Structure Top' Exam comporte trois parties : - L'épreuve de ... : une présentation de l'épreuve et de ses modalités (durée, contenu, coefficient, déroulement) - Entrée en matière : pour maîtriser la méthodologie générale de l'épreuve. Comment utiliser au mieux le temps imparti ' Quelles sont les difficultés propres à chaque partie du sujet ' Quels savoir-faire mobiliser' - Le vif du sujet : des sujets d'examen accompagnés de conseils et suivis d'un corrigé complet. |
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| BAR007278 | 621.3 FEL | Livre | Bibliothèque de l'élève | Manuels scolaires | Disponible |